Plateforme Microscope électronique à balayage

     Personne à contacter :   Françoise PILLIER  01 44 27 42 01                                                       

Descriptif de l'appareillage :

Microscope électronique à balayage à canon à émission de champ (SEM-FEG) ULTRA 55 ZEISS équipé d’un microanalyseur EDS Bruker QUANTAX et d’un système EBSD.

  • SEM-FEGElectrons secondaires (SE2, InLens)

 

  • Electrons rétrodiffusés (AsB, EsB)

 

  • Analyse chimique élémentaire (EDS)

 

  • EBSD

 

  • Métallisation d’échantillon (or) par plasma (Cressington 108)

 

  • Dépôt de carbone par évaporation thermique (Cressington 208)

 

 

Imagerie en électrons secondaires

SE2Observation de la topographie d’échantillons par la détection des électrons secondaires jusqu’à l’échelle nanométrique

 

 

Nanofils de polypyrrole synthétisés par voie électrochimique sans gabarit  

(Electrochem. Commun. 2009, 11, 298).  

 

 

 

 Imagerie en électrons rétrodiffusés

AsBObservation des différentes phases d’un échantillon selon leur numéro atomique par la détection des électrons rétrodiffusés.

 

 

 

Soudure entre deux alliages d’aluminium  

(2024 et 7475 immergée dans une solution de Na2SO4 0.1M)  

 

 

Analyse élémentaire

Analyse qualitative et quantitative (avec témoins) des élements présent dans le matériau et cartographie X

Spectre

EDS1
Bronze B3
EDS3
Phase sombre Wt %
Cu 90.10%
Sn 9.90%
EDS2
Phase claire   Wt  %
Cu   75.17 %
Sn 24.83%

 

Cartographie X

carto
Bronze B3 après 24h d'immersion dans NaCl 10,5M+1,3,4 thiadiazole 10mM

 

EBSD

Caractérisation des propriétés cristallographiques de l’échantillon

EBSD
Echantillon de Nickel